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Angstrom Sun Technologies · SE-1000
SE-1000 是一款经济型光谱椭偏仪，波长范围350-1000nm。采用旋转偏振器-补偿器设计，可测量膜厚（0.1nm-10μm）和折射率。内置自动校准功能，无需频繁标定。支持手动/自动双模式，标配50μm光斑，可选配变温台（室温-300°C）和液体池。
高性价比；易维护；模块化；教学适用
该型号在北美高校教学实验室中占有率超过30%。；其软件内置了'一键拟合'功能，适合非专业用户。
Semilab · SE-2000
SE-2000 是一款专为工业产线设计的全自动光谱椭偏仪，波长范围250-990nm。采用双旋转补偿器设计，可同时测量薄膜厚度、光学常数及表面粗糙度。支持全自动晶圆传送（兼容200mm/300mm），测量速度高达100点/小时，并集成膜厚均匀性分析算法。
工业可靠性；高吞吐量；低维护；光伏专用
Semilab 的椭偏仪在2019年全球光伏市场份额超过40%。；该型号可加装原位等离子体监测模块，用于PECVD过程控制。
HORIBA · UVISEL Plus
UVISEL Plus 是一款全自动光谱椭偏仪，波长范围190-2100nm（深紫外至近红外）。采用专利的相位调制技术，无需旋转光学元件，测量速度极快（<1秒/点）。支持微光斑（50μm）和Mapping功能，可分析多层复杂膜系（如OLED、钙钛矿），并配备DeltaPsi2数据分析平台。
宽光谱覆盖；高速测量；微区分析；原位监测
其相位调制技术源自法国国家科学研究中心（CNRS）的专利。；该型号可搭配超低温台（-190°C）进行变温椭偏研究。
J.A. Woollam · Alpha-SE
Alpha-SE 是一款专为教学和常规薄膜测量设计的紧凑型光谱椭偏仪，波长范围380-900nm。它采用旋转补偿器技术，可同时测量Psi和Delta，无需手动对准。内置CompleteEASE软件，一键分析膜厚（0-3000nm）和光学常数（n,k），适合单层或多层透明薄膜快速表征。
易用性；高重复性；教学友好；紧凑设计
该型号全球累计销量超过2000台，是椭偏仪界的'丰田卡罗拉'。；其软件内置了超过200种材料的光学常数库。